天瑞Skyray CEMS-X100煙氣重金屬在線分析儀 CEMS-X100是天瑞儀器20多年X射線熒光（XRF）研發制造經驗的結晶。儀器結合煙氣顆粒物稀釋采樣技術和等速采樣技術，將煙氣中水分和溫度降至一定溫度后，顆粒物自動富集在卷狀濾膜上，采用高度集成探測器和X射線熒光數字多道分析技術檢測重金屬顆粒物在X射線激發下產生的X熒光強度，通過信號強度和體積換算準確計算煙氣顆粒物中重金屬的濃度。
天瑞Skyray EDX 2000A能量色散X熒光光譜儀 天瑞EDX 2000A能量色散X熒光光譜儀(全自動微區膜厚測試儀)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行快速對焦精準分析，滿足半導體、芯片及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動，雙激光定位和保護系統。
天瑞Skyray EDX600Plus能量色散X熒光光譜儀 EDX600Plus是天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗，專門研發的一款下照式結構的鍍層測厚儀。測量方便快捷，無需液氮，無需樣品前處理。對工業電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進行精準檢測,幫助企業準確核算成本及質量管控。可廣泛應用于光伏行業、五金衛浴、電子電器、航空航天、磁性材料、汽車行業。
天瑞Skyray EDX 3000B 能量色散X熒光光譜儀 本產品符合國標GB/T18043-2013對儀器分辨率的要求，EDX3000B采用Si-Pin半導體探測器，遠勝于正比計數探測器;準確無誤地分析黃金，鉑金和K金飾品中金、銀、鉑、鈀、銅、鋅、鎳的含量。
天瑞Skyray EDX 600能量色散X熒光光譜儀 天瑞EDX 600能量色散X熒光光譜儀是集天瑞儀器多年貴?屬檢測技術和經驗，以產品配置、功能?全的測試軟件、友好的操作界?來滿?貴?屬成分檢測的需要，?性化的設計，使測試?作更加輕松完成。
